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  • 科茂隆 >> 解密须知 >> IC逆向分析/反向设计      

    IC逆向分析/反向设计

        目前,因为海内在模拟集成电路设计领域的研究较为薄弱,芯片逆向分析便成为大多数模拟集成电路工程师基础实际模拟电路积累经验的有效途径,IC反向设计也成为推动海内集成电路设计提高的有效手段。
        在IC逆向分析与设计服务中,世纪芯主要提供以下服务内容用FBI对IC线路进行修改
        用FIB对芯片电路进行物理修改可使芯片设计者对芯片题目处作针对性的测试,以便更快更正确的验证设计方案. 若芯片部份区域有题目,可通过FIB对此区域隔离或改正此区域功能,以便找到题目的症结.FIB还能在终极产品量产之条件供部门样片和工程片,利用这些样片能加速终端产品的上市时间.利用FIB修改芯片可以减少不成功的设计方案修改次数,缩短研发时间和周期。对于做芯片解密的客户,可以通过线路修改达到解密的效果。
    IC替代是世纪芯针对客户在产品仿制或设计开发中碰到的疑难、罕见器件提供的配套服务。跟着产品更新速度不断加快,出厂较早的产品中有些器件已经停产或找不到原品从而成为疑难器件。同时,有些设计者在产品设计的器件选型时没有考虑到利便器件采购的原则,在后期正式开发制作中便需要进行器件替代,因此,疑难器件的替代也越来越受到正视。
        世纪芯在长期的器件分析与BOM清单制作中积累了数以万计的元器件具体参数与资料,能够为客户检测产品中所有元器件或模块的电性特征与功能参数,以正确识别各种器件与模块类型及其可替换性特征,对于各种疑难器件,不管多么复杂和罕见,我们都能找到合适的器件系列来进行替代。对单片机和CPLD以及FPGA等芯片进行分析和测试,做逆向的代码提取以及安全漏洞的测试分析。
        用FIB在IC芯片特定位置作截面断层,对材料的截面结构与材质,定点分析芯片结构缺陷.这样可以匡助IC设计职员对IC设计机能的分析。网表/电路图提取与逻辑功能分析
        在芯片反向工程中,网表/电路图提取长短常重要的工作。网表提取的质量和速度直接影响后面收拾整顿、仿真和LVS等方方面面的工作。世纪芯在长期的技术研究中已经成功总结了一套切实可行的规范和方法,可以高质量高速度的提取各种类型电路的网表。
         网表提取结束后,往往需要进行电路的收拾整顿工作,把一个打平(flatten)的电路进行层次化(hiberarchy)收拾整顿,形成一个电路的层次化结构,以便理解设计者的设计思路和技巧,同时还能达到查找网表错误的目的。世纪芯通过对电路的各个层次模块的收拾整顿和分析,不仅可以充分理解芯片设计者的设计思惟和设计技巧,还可以在分析总结提高前辈设计思路的基础上实现自身设计能力的进步。
        版图设计是电路逻辑的物理实现,是集成电路产品实现(ChipLogic Layeditor)。世纪芯在反向设计的基础上提供版图的提取、工艺库替代、目标工艺修改、DRC检查和LVS校验等各种设计服务。
            网表和版图设计结束后,往往需要对其准确性进行各种验证,为了保证设计流程的完整性,世纪芯主要提供芯片网表数据和版图数据的FPGA验证、逻辑仿真验证、LVS验证服务。
     IC型号鉴定是世纪芯主要针对一些被打磨芯片或者型号不正确芯片提供的一项技术服务。在目前电子产品开发中,一些设计者为防止产品被人抄袭或仿制,常通过打磨掉芯片型号或印上别的型号来增加芯片解密和产品仿造的难度。因此,IC型号鉴定在电子产品反向开发中也显得越来越重要。
        世纪芯在多年反向技术研究中已经接触并针对数万种器件进行过具体的参数分析与破解,对各类芯片内部特征、存储结构、时钟电路、指令系统等等有深入的了解,借助公司配备的多种提高前辈参数测试与分析仪器,可快速正确为您提供多种IC型号的鉴定。
        因为在型号鉴定中,我们需要对母片进行破坏,假如您需要返还母片,请在给我们发样片的时候注明,否则我们一般不返还母片。
         
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